Malzeme analiz yöntemlerinin listesi - List of materials analysis methods
Bu, malzeme biliminde kullanılan analiz yöntemlerinin bir listesidir . Analiz yöntemleri, varsa kısaltmalarına göre listelenir.
Semboller
- μSR – bkz. müon spin spektroskopisi
- χ – bkz. manyetik duyarlılık
bir
- AAS – Atomik absorpsiyon spektroskopisi
- AED – Auger elektron kırınımı
- AES – Auger elektron spektroskopisi
- AFM – Atomik kuvvet mikroskobu
- AFS – Atomik floresan spektroskopisi
- Analitik ultrasantrifüj
- APFIM – Atom prob alanı iyon mikroskobu
- APS – Görünüm potansiyel spektroskopisi
- ARPES – Açı çözümlü fotoemisyon spektroskopisi
- ARUPS – Açı çözümlü ultraviyole fotoemisyon spektroskopisi
- ATR – Zayıflatılmış toplam yansıma
B
- BET – BET yüzey alanı ölçümü (Brunauer, Emmett, Teller'den BET)
- BiFC – Bimoleküler floresan tamamlama
- BKD – Geri saçılım Kikuchi kırınımı, bkz. EBSD
- BRET – Biyolüminesans rezonans enerji transferi
- BSED – Geri saçılmış elektron kırınımı, bkz. EBSD
C
- CAICISS – Koaksiyel darbe çarpışma iyon saçılma spektroskopisi
- CARS – Tutarlı anti-Stokes Raman spektroskopisi
- CBED – Yakınsak ışın elektron kırınımı
- CCM – Yük toplama mikroskobu
- CDI – Tutarlı kırınım görüntüleme
- CE – Kapiler elektroforez
- CET – Kriyo-elektron tomografisi
- CL – Katodolüminesans
- CLSM – Konfokal lazer tarama mikroskopisi
- COSY - Korelasyon spektroskopisi
- Cryo-EM – Cryo-elektron mikroskopisi
- Cryo-SEM – Kriyo taramalı elektron mikroskobu
- CV – Döngüsel voltametri
D
- DE(T)A – Dielektrik termal analiz
- dHvA – De Haas–van Alphen etkisi
- DIC – Diferansiyel girişim kontrast mikroskopisi
- dielektrik spektroskopisi
- DLS – Dinamik ışık saçılması
- DLTS – Derin seviyeli geçici spektroskopi
- DMA – Dinamik mekanik analiz
- DPI – Çift polarizasyon interferometrisi
- DRS – Diffüz yansıma spektroskopisi
- DSC – Diferansiyel taramalı kalorimetri
- DTA – Diferansiyel termal analiz
- DVS – Dinamik buhar emme
E
- EBIC – Elektron ışını kaynaklı akım (bkz. IBIC: iyon ışını kaynaklı yük)
- EBS – Elastik (Rutherford dışı) geri saçılma spektrometrisi (bkz. RBS )
- EBSD – Elektron geri saçılım kırınımı
- ECOSY – Özel korelasyon spektroskopisi
- ECT – Elektrik kapasitans tomografisi
- EDAX – X-ışınlarının enerji dağılımlı analizi
- EDMR – Elektriksel olarak algılanan manyetik rezonans , bkz. ESR veya EPR
- EDS veya EDX – Enerji dağılımlı X-ışını spektroskopisi
- EELS – Elektron enerji kaybı spektroskopisi
- EFTEM – Enerji filtreli transmisyon elektron mikroskobu
- EID – Elektron kaynaklı desorpsiyon
- EIT ve ERT – Elektrik empedans tomografisi ve elektrik özdirenç tomografisi
- EL – Elektrolüminesans
- elektron kristalografisi
- ELS – Elektroforetik ışık saçılımı
- ENDOR – Elektron nükleer çift rezonansı , bkz. ESR veya EPR
- EPMA – Elektron probu mikroanalizi
- EPR – Elektron paramanyetik rezonans spektroskopisi
- ERD veya ERDA – Elastik geri tepme algılama veya elastik geri tepme algılama analizi
- ESCA – Kimyasal analiz için elektron spektroskopisi bkz. XPS
- ESD – Elektron uyarımlı desorpsiyon
- ESEM – Çevresel taramalı elektron mikroskobu
- ESI-MS veya ES-MS – Elektrosprey iyonizasyon kütle spektrometrisi veya elektrosprey kütle spektrometrisi
- ESR – Elektron spin rezonans spektroskopisi
- ESTM – Elektrokimyasal tarama tünelleme mikroskopisi
- EXAFS – Genişletilmiş X-ışını absorpsiyonlu ince yapı
- EXSY – Değişim spektroskopisi
F
- FCS – Floresan korelasyon spektroskopisi
- FCCS – Floresan çapraz korelasyon spektroskopisi
- FEM – Alan emisyon mikroskobu
- FIB – Odaklanmış iyon ışını mikroskobu
- FIM-AP – Alan iyon mikroskobu – atom probu
- Akış çift kırılması
- floresan anizotropi
- FLIM – Floresan ömür boyu görüntüleme
- Floresan mikroskobu
- FOSPM – Özellik odaklı tarama probu mikroskopisi
- FRET – Floresan rezonans enerji transferi
- FRS - İleri Geri tepme Spektrometresi, bir eşanlamlı ERD
- FTICR veya FT-MS – Fourier dönüşümü iyon siklotron rezonansı veya Fourier dönüşümü kütle spektrometrisi
- FTIR – Fourier transform kızılötesi spektroskopisi
G
- GC-MS – Gaz kromatografisi-kütle spektrometrisi
- GDMS – Glow deşarj kütle spektrometrisi
- GDOS – Kızdırma deşarjlı optik spektroskopi
- GISAXS – Otlatma insidansı küçük açılı X-ışını saçılımı
- GIXD – Otlatma insidansı X-ışını kırınımı
- GIXR - Otlatma insidansı X-ışını yansıtıcılığı
- GLC – Gaz-sıvı kromatografisi
H
- HAADF – Yüksek açılı dairesel karanlık alan görüntüleme
- HAS – Helyum atomu saçılması
- HPLC – Yüksek performanslı sıvı kromatografisi
- HREELS – Yüksek çözünürlüklü elektron enerji kaybı spektroskopisi
- HREM – Yüksek çözünürlüklü elektron mikroskobu
- HRTEM – Yüksek çözünürlüklü transmisyon elektron mikroskobu
- HI-ERDA – Ağır iyon elastik geri tepme algılama analizi
- HE-PIXE – Yüksek enerjili proton kaynaklı X-ışını emisyonu
ben
- IAES – İyon kaynaklı Auger elektron spektroskopisi
- IBA – İyon ışını analizi
- IBIC – İyon ışını kaynaklı yük mikroskopisi
- ICP-AES – Endüktif olarak eşleştirilmiş plazma atomik emisyon spektroskopisi
- ICP-MS – Endüktif olarak eşleştirilmiş plazma kütle spektrometrisi
- immünofloresan
- ICR – İyon siklotron rezonansı
- IETS – Esnek olmayan elektron tünelleme spektroskopisi
- IGA – Akıllı gravimetrik analiz
- IGF – İnert gaz füzyonu
- IIX – İyon kaynaklı X-ışını analizi, bkz. parçacık kaynaklı X-ışını emisyonu
- INS – İyon nötralizasyon spektroskopisi
- Esnek olmayan nötron saçılması
- IRNDT – Malzemelerin kızılötesi tahribatsız muayenesi
- IRS – Kızılötesi spektroskopi
- ISS – İyon saçılma spektroskopisi
- ITC – İzotermal titrasyon kalorimetrisi
- IVEM – Orta gerilim elektron mikroskobu
L
- LALLS – Düşük açılı lazer ışığı saçılması
- LC-MS – Sıvı kromatografisi-kütle spektrometrisi
- LEED – Düşük enerjili elektron kırınımı
- LEEM – Düşük enerjili elektron mikroskobu
- LEIS – Düşük enerjili iyon saçılması
- LIBS – Lazer kaynaklı arıza spektroskopisi
- LOES – Lazer optik emisyon spektroskopisi
- LS – Işık (Raman) saçılması
M
- MALDI – Matris destekli lazer desorpsiyon/iyonizasyon
- MBE – Moleküler ışın epitaksisi
- MEIS – Orta enerjili iyon saçılması
- MFM – Manyetik kuvvet mikroskobu
- MIT – Manyetik indüksiyon tomografisi
- MPM – Multiphoton floresan mikroskopisi
- MRFM – Manyetik rezonans kuvvet mikroskobu
- MRI – Manyetik rezonans görüntüleme
- MS – Kütle spektrometrisi
- MS/MS – Tandem kütle spektrometrisi
- MSGE – Mekanik olarak uyarılmış gaz emisyonu
- Mössbauer spektroskopisi
- MTA – Mikrotermal analiz
N
- NAA – Nötron aktivasyon analizi
- ND – Nötron kırınımı
- NDP – Nötron derinliği profili oluşturma
- NEXAFS – Yakın kenar X-ışını absorpsiyonlu ince yapı
- NIS – Nükleer esnek olmayan saçılma/absorpsiyon
- NMR – Nükleer manyetik rezonans spektroskopisi
- NOESY – Nükleer Overhauser etkisi spektroskopisi
- NRA – Nükleer reaksiyon analizi
- NSOM – Yakın alan optik mikroskopisi
Ö
- OBIC – Optik ışın kaynaklı akım
- ODNMR – Optik olarak algılanan manyetik rezonans, bkz. ESR veya EPR
- OES – Optik emisyon spektroskopisi
- ozmometri
P
- PAS – Pozitron yok etme spektroskopisi
- fotoakustik spektroskopi
- PAT veya PACT – Fotoakustik tomografi veya fotoakustik bilgisayarlı tomografi
- PAX – Adsorplanmış ksenonun foto emisyonu
- PC veya PCS – Fotoakım spektroskopisi
- Kontrast mikroskopi aşaması
- Doktora – Fotoelektron kırınımı
- PD – Fotodesorpsiyon
- PDEIS – Potansiyodinamik elektrokimyasal empedans spektroskopisi
- PDS – Fototermal sapma spektroskopisi
- PED – Fotoelektron kırınımı
- PEELS – paralel elektron enerji kaybı spektroskopisi
- PEEM – Fotoemisyon elektron mikroskobu (veya fotoelektron emisyon mikroskobu)
- PES – Fotoelektron spektroskopisi
- PINEM - foton kaynaklı yakın alan elektron mikroskobu
- PIGE – Parçacık (veya proton) kaynaklı gama ışını spektroskopisi, bkz. nükleer reaksiyon analizi
- PIXE – Parçacık (veya proton) kaynaklı X-ışını spektroskopisi
- PL – Fotolüminesans
- porozimetri
- Toz kırınımı
- PTMS – Fototermal mikrospektroskopi
- PTS – Fototermal spektroskopi
S
$
- Raman spektroskopisi
- RAXRS – Rezonans anormal X-ışını saçılması
- RBS – Rutherford geri saçılma spektrometrisi
- REM – Yansıma elektron mikroskobu
- RDS – Yansıma farkı spektroskopisi
- RHEED – Yansıma yüksek enerjili elektron kırınımı
- RIMS – Rezonans iyonizasyon kütle spektrometrisi
- RIXS – Rezonans esnek olmayan X-ışını saçılması
- RR spektroskopisi – Rezonans Raman spektroskopisi
S
- SAD – Seçilmiş alan kırınımı
- SAED – Seçilmiş alan elektron kırınımı
- SAM – Taramalı Auger mikroskobu
- SANS – Küçük açılı nötron saçılması
- SAXS – Küçük açılı X-ışını saçılması
- SCANIIR – Nötr türlerin ve iyon etkili radyasyonun analizi ile yüzey bileşimi
- SCEM – Taramalı eş odaklı elektron mikroskobu
- SE – Spektroskopik elipsometri
- SEC – Boyut dışlama kromatografisi
- SEIRA – Yüzeyi geliştirilmiş kızılötesi absorpsiyon spektroskopisi
- SEM – Taramalı elektron mikroskobu
- SERS – Yüzeyi geliştirilmiş Raman spektroskopisi
- SERRS – Yüzey geliştirilmiş rezonans Raman spektroskopisi
- SESANS – Spin Echo Küçük Açılı Nötron Saçılımı
- SEXAFS – Yüzey genişletilmiş X-ışını absorpsiyonlu ince yapı
- SICM – Taramalı iyon iletkenlik mikroskobu
- SIL – Katı daldırma lensi
- SIM – Katı daldırma aynası
- SIMS – İkincil iyon kütle spektrometrisi
- SNMS – Püskürtülmüş nötr tür kütle spektrometrisi
- SNOM – Yakın alan optik mikroskopisini tarama
- SPECT – Tek foton emisyonlu bilgisayarlı tomografi
- SPM – Taramalı sonda mikroskobu
- SRM-CE/MS – Seçilmiş reaksiyon izleme kapiler elektroforez kütle spektrometrisi
- SSNMR – Katı hal nükleer manyetik rezonans
- Stark spektroskopisi
- STED – Uyarılmış emisyon tükenme mikroskobu
- STEM – Taramalı transmisyon elektron mikroskobu
- STM – Taramalı tünelleme mikroskobu
- STS – Taramalı tünelleme spektroskopisi
- SXRD – Yüzey X-ışını kırınımı
T
- TAT veya TACT – Termoakustik tomografi veya termoakustik bilgisayarlı tomografi (ayrıca bkz. fotoakustik tomografi – PAT)
- TEM – İletim elektron mikroskobu
- TGA – Termogravimetrik analiz
- TİKA – İletim iyon kinetik analizi
- TIMS – Termal iyonizasyon kütle spektrometrisi
- TIRFM – Toplam iç yansıma floresan mikroskobu
- TLS – Fototermal lens spektroskopisi, bir tür fototermal spektroskopi
- TMA – Termomekanik analiz
- TOF-MS – Uçuş süresi kütle spektrometrisi
- İki foton uyarma mikroskobu
- TXRF – Toplam yansıma X-ışını floresan analizi
sen
- Ultrason zayıflama spektroskopisi
- Ultrasonik muayene
- UPS – UV-fotoelektron spektroskopisi
- USANS – Ultra küçük açılı nötron saçılması
- USAXS – Ultra küçük açılı X-ışını saçılması
- UV-Vis – Ultraviyole-görünür spektroskopi
V
- VEDIC – Video ile geliştirilmiş diferansiyel girişim kontrast mikroskopisi
- voltametri
W
- WAXS – Geniş açılı X-ışını saçılması
- WDX veya WDS – Dalga boyu dağılımlı X-ışını spektroskopisi
X
- XAES – X-ışını kaynaklı Auger elektron spektroskopisi
- XANES – XANES , NEXAFS ile eşanlamlıdır (yakın kenar X-ışını absorpsiyonlu ince yapı)
- XAS – X-ışını absorpsiyon spektroskopisi
- X-CTR – X-ışını kristal kesme çubuğu saçılması
- X-ışını kristalografisi
- XDS – X-ışını dağınık saçılması
- XPEEM – X-ışını fotoelektron emisyon mikroskobu
- XPS – X-ışını fotoelektron spektroskopisi
- XRD – X-ışını kırınımı
- XRES – X-ışını rezonans değişim saçılması
- XRF – X-ışını floresan analizi
- XRR – X-ışını yansıtma özelliği
- XRS – X-ışını Raman saçılması
- XSW – X-ışını duran dalga tekniği
Ayrıca bakınız
Referanslar
- Callister, WD (2000). Malzeme Bilimi ve Mühendisliği – Bir Giriş . Londra: John Wiley ve Oğulları. ISBN'si 0-471-32013-7.
- Yao, N, ed. (2007). Odaklanmış İyon Işın Sistemleri: Temeller ve Uygulamalar . Cambridge, Birleşik Krallık: Cambridge University Press. ISBN'si 978-0-521-83199-4.